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掃描型雙光速紫外可見分光光度計UV756佑科
詳細信息| 詢價留言品牌：佑科 加工定制：否 型號：UV756 波長范圍：190-1100nm nm 加工定制：否 型號：UV756 掃描型紫外可見分光光度計 UV756 儀器特點：
1. 采用1200條/mm高性能光柵。新型的光源控制系統，使儀器光源切換更快速。
2. 精確的2nm帶寬，使測試數據更準確。使用進口長壽命光源，使儀器光源切換更快速。
3.特有的波長控制系統，使波長精度更高。改良的光學系統，使測試更準確。
4.采用進口的光電轉換器，使儀器的靈敏度更高。
5.新型的微電腦數據處理系統。使儀器的使用更簡便，穩定性也很好。
6.儀器采用128*64位點陣液晶顯示器，可直接顯示標準曲線和測試數據，主機可存儲測試數據，并可選配打印機；
UV756CRT型紫外可見分光光度計在UV756的基礎上增加了全波段自動掃描功能和連接微機功能。
掃描型紫外可見分光光度計 UV756 儀器參數：
波長范圍：190-1100nm
波長準確度：±0.5nm
波長重復性：0.2nm
光譜帶寬：2nm
透射比準確度：±0.5%T
透射比重復性：0.2%T
光度范圍：-3~3A ，0-200%T，0~9999C
基線平直度：±0.001A/h
雜散光：0.05%T@220nm、360nm
穩定性：±0.001A/小時 @500nm
顯示方式：128*64位點陣液晶顯示
Rs232通訊：USB接口
打印機：選配
分析軟件：支持
自動八聯比色池：選配
光學系統：雙光束比例監測
噪聲水平：±0.001A/2min@500nm -
留 言
- 聯系人：趙國靈
- 電 話：020-86541001
- 手 機：13928870961
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